四探針電阻率測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻，主要用于評估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能。廣泛用于半導(dǎo)體廠家、太陽能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究。

　　電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的方法很多，四探針法是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。它的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡單、操作方便，度高，對樣品的形狀無嚴(yán)格要求。

　　常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對測量結(jié)果做相應(yīng)的校正。

　　四探針電阻率測試儀測試四探針筆方法：

　　一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：

　　1、先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接;

　　2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，(四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片)，將斷針從銅片卡口座里取下即可;

　　3、特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接;

　　4、安裝時(shí)銅片及絕緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲;

　　5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。